Контакты

Для связи с сотрудниками нашей компании, напишите или позвоните:

+7 343 206 76 76 

sale@spectral-tech.ru

Схема проезда
Остались вопросы? Мы перезвоним!
Главная КАТАЛОГ Микроскопы Стереомикроскопы Микроскоп Olympus BX53-P поляризационный

Микроскоп Olympus BX53-P поляризационный

Микроскоп Olympus BX53-P поляризационный
Производитель: Япония
Кол-воДОБАВИТЬ В ЗАЯВКУ

Микроскоп Olympus BX53-P поляризационный обеспечивает превосходную производительность при выполнении наблюдения в поляризованным свете, используя комбинацию оптики класса UIS2 с коррекцией на бесконечность и усовершенствованную оптическая конструкция. Микроскоп универсален для применения практически в любой области, где используется поляризованным свет благодаря расширенной линейке совместимых компенсаторов.. 

Поляризационный микроскоп Olympus BX53 P Evident исследовательского класса применяется для реализации качественной и количественной поляризации, ортоскопии и коноскопии при наблюдении живых микроорганизмов, жидкостей, волокон, пленок, порошков и кристаллов.

Данный микроскоп может быть укомплектован 8ю типами компенсаторов, поляризационными объективами класса ахромат или полуапохромат на выбор. Специализированные объективы обеспечивают высококачественное изображение без искажений образцов, обладающих двойным лучеприломлением поляризованного света, и уменьшают напряжение глаз во время микроскопии в поляризованном свете.

Принцип действия поляризационного BX 53 P заключается в получении изображения после облучения исследуемого образца поляризационными лучами. Для этого в устройстве предусмотрены вращающиеся и разворачивающиеся друг относительно друга фильтры — поляризатор на 360° и анализатор на 180°.

Круглый столик, вращаемый на 360 градусов, и отцентрованный относительно оптической оси - обязательный компонент поляризационного микроскопа.

Переключатель режимов ортоскопия и коноскопия.

Технические характеристики
  • U-TP137: четверть волновая поляризационная пластинка (λ/4):
    • вносит относительный фазовый сдвиг на 90 ° между ортогональными волновыми фронтами (обыкновенными необыкновенным) при прохождении линейно поляризованного света. Этот сдвиг преобразует линейно поляризованный свет в эллиптическую или круговую поляризацию
    • используется для увеличения контраста при исследовании материалов со слабым двулучепреломлением
    • используется для определения знака двулучепреломления в коноскопии с использованием линзы Бертрана
    • используется для для качественного анализа коноскопических и ортоскопических изображений
    • для оценки различий в оптическом пути в двулучепреломляющих образцах
  • U-TP530: одноволновая поляризационная пластинка (λ) первого порядка (компенсатор первого порядка):
    • вносит фазовый сдвиг 90 в зеленую составляющую света, которая затем блокируется анализатором, оставляя линейную поляризацию других составляющих света без изменений
    • используется для количественного анализа в коноскопической и ортоскопической поляризационной микроскопии
    • используется для определения оптического признака (положительного или отрицательного) двойного лучепреломляющего образца
    • используется для определения толщины исследуемого объекта
    • используется для определения двулучепреломления кристаллических и полимерных материалов
    • используется для усиления контраста объектов с очень слабым двулучепреломлением, например, биологических объектов, таких как, оболочки клеток, крахмал, микротрубки и т.п.
  • U-CWE-2: кварцевый клин (1-4λ):
    • вносит плавно изменяющийся фазовый сдвиг, который зависит от толщины кварцевой пластинки в конкретном месте клина
    • используется для полу-количественного (не точного) анализа в поляризационной микроскопии
    • используется для качественного анализа минералов в петрографии
    • используется для определения оптического признака двулучепреломляющего образца, когда присутствуют цвета интерференции высшего порядка
    • используется для определения направления анизотропии в двулучепреломляющих образцах
    • используется для исследования волокон
  • U-CBE: компенсатор Берека 0 - 20 (Berek) (0-3 λ):
    • вносит плавно изменяющийся фазовый сдвиг, который зависит от угла поворота пластинки
    • используется для количественного анализа в поляризационной микроскопии для исследования кристаллов, волокон, минералов, пластиковой пленки
    • используется для измерения толщины материала
    • используется для измерений на живых организмах и макромолекулах
    • используется для исследования волокон
    • используется для количественного определения задержки длины волны кристалла, волокна, минерала, пластиковой пленки или другого двулучепреломляющего материала
    • может использоваться для определения значения двойного лучепреломления
  • U-CSE: компенсатор Senarmont (0-1 λ) (компенсатор Сенармона):
    • объединяет высокоточную кварцевую четвертьволновую кристаллическую пластину и вращающийся на 180° анализатор; предназначен для обеспечения измерений с точностью, которая приближается к одной тысячной длины волны или менее
    • требует использования интерференционного зеленого светофильтра для создания монохромного света
    • используется для количественного анализа в поляризационной микроскопии для исследования кристаллов, волокон и живых организмов (оболочки клеток, органеллы, микротрубки и т.п.)
    • используется для исследования натяжения в оптике
    • используется для измерений на живых организмах и макромолекулах
    • используется для усиления контраста объектов с очень слабым двулучепреломлением, например, биологических объектов, таких как, оболочки клеток, крахмал, микротрубки и т.п.
    • используется для измерений запаздывания в диапазоне оптических разностей хода около 550 нанометров (одна длина волны в зеленой области) для количественного анализа кристаллов, волокон и двулучепреломления в живых организмах
    • используется для исследования оптической деформации
    • используется для подчеркивания контраста в слабо двулучепреломляющих образцах, которые обычно трудно исследовать при скрещенном поляризованном освещении
  • U-CBR: компенсатор Брейс-Келера (Brace-Koehler) (0-1/10 λ или 0-1/30 λ):
    • используется для количественного анализа в поляризационной микроскопии для измерения очень малых фазовых запаздываний (оптических разностей хода) у таких объектов, как тонкие пленки, стекла, живые организмы с низким коэффициентом двойного лучепреломления
    • используется для усиления контраста объектов с очень слабым двулучепреломлением
    • делает микроскоп чувствительным и точным устройством для проведения количественных измерений
Похожие товары
Оставить заявку
Политика конфиденциальности
Top.Mail.Ru Яндекс.Метрика
Данный сайт использует файлы cookie и прочие похожие технологии. В том числе, мы обрабатываем Ваш IP-адрес для определения региона местоположения. Используя данный сайт, вы подтверждаете свое согласие с политикой конфиденциальности сайта.
OK