Контакты
Главная КАТАЛОГ Анализ химического состава материалов Портативные лазерные эмиссионные спектрометры SciAps Z-300 Анализатор
SciAps Z-300 Анализатор
Самый широкохватываемый спектральный диапазон из всех LIBS, определяет все элементы Периодической системы химических элементов , идеален для геохимии, научных и прочих задач по неметаллам за секунду от H to U.
Лазерный анализатор Z-300 использует лазер с расширенным спектральным диапазоном от 190 нм до 950 нм. Данный диапазон позволяет измерять эмиссионные линии элементов H, F, N, O, Br, Cl, Rb, Cs и S. Эти линии не может измерить моделью Z-200. Z-300 также измеряет более чувствительную линию для Лития (Li) для достижения пределов обнаружения в диапазоне 2-5 ppm и чистую от помех линию для Калия (K). Более традиционные линии калия имеют значительные помехи от железа, тогда как линия, используемая Z-300, не имеет таких помех.
Лазерный анализатор Z-300 использует лазер с расширенным спектральным диапазоном от 190 нм до 950 нм. Данный диапазон позволяет измерять эмиссионные линии элементов H, F, N, O, Br, Cl, Rb, Cs и S. Эти линии не может измерить моделью Z-200. Z-300 также измеряет более чувствительную линию для Лития (Li) для достижения пределов обнаружения в диапазоне 2-5 ppm и чистую от помех линию для Калия (K). Более традиционные линии калия имеют значительные помехи от железа, тогда как линия, используемая Z-300, не имеет таких помех.
Кол-воДОБАВИТЬ В ЗАЯВКУ
Z-300 для проведения геохимии в полевых условиях
Портативный LIBS Z-300 – это новейшая технология, которая находит применение в горнодобывающей и геологоразведочной отраслях.
Данная серия анализаторов предлагает две важные функции, недоступные для
традиционного портативного рентгено-флуоресцентного метода:
1. Анализирует элементы, которые невозможно определять с помощью портативных рентгено-флуоресцентных анализаторов (РФА), включая Литий (Li), Бериллий (Be), Бор (B), Углерод (C), Фтор (F) и Натрий (Na).
2. Выполняет микроанализ в поле, что недоступно ни с каким другим анализатором. Диаметр лазерного луча составляет 100 мкм, а Z может растрировать лазер с дискретным шагом в двух измерениях. Это обеспечивает визуализацию определенных областей горных пород или, другими словами, можно создавать “тепловые” карты распределения элементов в пробе. Z лучше работает на низких концентрациях базовых металлов, включая легкие Mg и Al, по
сравнению с РФА. Пользователи могут настроить сетку растра, используя точечный размер пятна размером 100 мкм для элементного отображения по точкам. Для массивных образцов программой Z может быть задан средний результат для каждой точки растра для получения результата объемной выборки. Такая функция работает и на наших портативных рентгено-флуоресцентных XRF анализаторах серии X.
Три основные особенности
1. Обдув аргоном
Z-300 оборудован встроенной системой продувки. Пользователи могут менять мини- баллончики с аргоном самостоятельно. Работа в аргоновой среде увеличивает интенсивность импульсов в 10x или более раз, что особенно важно для замеров в глубоком УФ (190 нм –300 нм), где измеряется большинство элементов. Дополнительно доступны большие баллоны на пояс (в 4 раза больше стандартного минибаллончика). Пользователи также могут подключать Z к промышленным стандартным стационарным баллоном с аргоном с нашей дополнительной комплектацией, состоящим из адаптера, регулятора и шланга. Все анализаторы LIBS могут работать с аргоном или без него или с функцией стробирования спектрометра или без нее. Однако, вам необходимо использовать наше программное приложение ProfileBuilder для построения калибровочных кривых в режиме воздух.
2. Лазерная технология очистки поверхности – Автоматизирует
подготовку поверхности образцов, предлагает профилирование по глубине
Z отличает новейший режим очистки поверхности, автоматический или настраиваемый Пользователем в зависимости от применения. В режиме зачистки лазер стреляет мощными импульсами 5-6 мДж/имп. с частотой 50 Гц (50 обжигов/сек), то есть 5 очищающих обжигов каждые 0.1 сек. Пользователь может настроить количество очищающих импульсов. После очищающих импульсов Z стреляет лазером в те же самые точки и уже получает спектральные данные для анализа. Для металлических образцов, которые могут иметь окалину или поверхностные загрязнения, по умолчанию предустановлено 10 очищающих выстрелов. Фокусировка лазера контролируется программой, таким образом, тестирование продолжается и “на глубине” материала. Для почв и минералов обычно необходимо меньше. Очищающие выстрелы также могут использоваться и для глубокого профилирования, к примеру, если нужно проанализировать более глубокие слои образца или пройти сквозь покрытие.
3. Растрируемый лазер 2D + регулировка Фокуса
Большинство научных публикаций свидетельствуют, что наилучшая воспроизводимость LIBS анализатора достигается с помощью растрирования лазера, когда результаты множества точек усредняются. Z -300 в этом направлении шагнул еще дальше и имеет встроенную платформу, передвигающую лазер в двух XY направлениях, плюс регулировка фокуса – в третьем Z-направлении. Теперь в дополнение к заводским установкам сетки растра для специфических приложений (сплавы, геохимия и т.д.) Пользователь может задать свой собственный шаблон растра. Можно проводить линейное сканирование или анализ одной определенной точки, например, при исследовании минеральных жил и включений. Диаметр луча лазера примерно 50 микрон. Z -300 включает в себя осветительное волокно, которое при выравнивании с растровым рисунком освещает место, где будет создаваться плазма. Благодаря программно-управляемому изменяемому фокусу пользователь может получать аналитические результаты в зависимости от толщины образца.
В результате: Z-300 находит большой спектр применений для разведки полезных
ископаемых, включая литий как в твердой породе, так и в соляных растворах, используется в области научных исследований, судебной экспертизы, криминалистики, аутентификации, археологии, разведки нефти и газа, поиска золота и полиметаллов благодаря широкому диапазону измеряемых элементов.
Лазерный импульс, подготовка поверхности, настройки спектрометра контролируются Пользователем. Анализатор имеет полноценное программное обеспечение для изменения всех настроек, сравнения спектральных данных и формирования калибровочных кривых. Z-300 имеет ту же ОС Android и интуитивно понятный пользовательский интерфейс, что и все другие модели анализаторов фирмы SciAps.
|
Вес |
1,9 кг с батареей. |
|
Габариты |
8.25″ x 11.5″ x 4.5″.
|
|
Сохранение данных |
Результаты хранятся на внутренней памяти SD карты 16 GB. |
|
Получение спектральных данных |
Спектральные данные собираются в режиме открытого или закрытого строба.
Стробирование может настраиваться Пользователем.
|
|
Передача данных |
Wifi, Bluetooth, USB. Возможность подключения к любым электронным устройствам,
включая программное обеспечение SciAps ProfileBuilder для ПК, MAC.
|
|
Питание |
Анализатор поставляется с перезаряжаемыми литий-ионными батареями, зарядным устройством
и адаптером для питания и зарядки батареи от сети.
|
|
Источник возбуждения |
5-6 Мдж/импульс, 50 Hz частота повторения, 1064 нм лазерный источник. |
|
Эксплуатация/Продувка аргоном |
Заменяемые встроенные баллоны с аргоном для точного анализа 1 баллона хватает на 100 тестов
измерения углерода и 600 тестов для обычных замеров.
|
|
Безопасность |
Защита доступа паролем и внутренняя защита паролем для администрирования. |
|
Лазерное растрирование |
XY платформа передвигает лазер в 2 направлениях. Растрирование лазера обеспечит
усреднение результатов множества точек. Область растрирования 16 x 16 точек, 256
местоположений.
|
|
Управляющая электроника |
Процессор: ARM Cortex -A9 dual-core / 1.2 GHz Память: 1 GB DDR2 RAM, 1 GB NAND. |
|
Нормативы и сертификаты |
CE, RoHS, USFDA регистр. Класс безопасности лазера 3b. Сенсор наличия образца позволяет
приравнивать работу по классу безопасности Class 1, требования по безопасности зависят от
страны использования. Внесен в Реестр Средств Измерений РФ, ТР ТС, Гост-Р.
|
|
Проверка калибровки |
Встроенный в анализатор контрольный образец сделан из 316 нержавеющей стали для
полностью автоматической рекалибровки по длине волны.
|
|
Коррекция дрейфа |
Требуется только для анализа углерода в стали с высокой точностью (с продувкой аргоном).
Автоматическая коррекция дрейфа проводится с помощью заводских или пользовательских
контрольных образцов.
|
|
Доступные приложения |
Сплавы, Геохимия (горное дело), Железные руды, Эмпирические, Экологические приложения.
Новые приложения регулярно добавляются и обновляются, пожалуйста, свяжитесь с
поставщиком для получения информации.
|
|
Видео/фото документирование |
Встроенная фото и видео камера для просмотра образца до, во время анализа для уточнения
места анализа.
|
|
Авто-фокус |
Z-направляющая платформа контролируется вручную или автоматически, подстраивая
фокусировку лазера в определенной точке анализируемого образца. Необходимо для анализа
жидкостей.
|
|
Дисплей |
5 дюймовый цветной тачскрин дисплей c поддержкой PowerVR SGX540 3D graphic. |
Похожие товары
